美国UPA CMS塑料涂层测厚仪

汽车玻璃涂层测厚仪MicroDerm CMS

世界上第一款手持式β射线测量仪器

● 充电底座可充当测量工作台

HH-3型和HH-2型探针是最通用的β射线探针，这些类型探针可以测量大多数不同尺寸和形状的微小样品，如圆柱体、薄片、挡风玻璃、电子元器件和微小面积样品。
SPG-1 Probe Guide
SPG-1用来定位HH-3探针在微小表面积上的测量，如电子元器件。
WF Probe Guide
WF是一款理想的工具应用于航空、汽车或其它需要测量大面积表面的工业（挡风玻璃、金属板、薄板等）
UMS Probe Stand
UMS探测台用于HH-3探针可精确控制测量位置，底台上附有固定设备。
BTF Probe
BTF β射线薄膜厚度测量探针可以测量极其稀薄的湿或干的涂层，如冲压滑润剂、底漆、扁平零件上的粘合剂等。
HH-4 Probe
HH-4探针主要用来测量样品内部便面的涂/镀层，如管形材料、轴承、环形物、圆柱形物体等。
PS 10-A Probe Table
PS-10A工作台用来进行精确、即时测量非常小的零部件和电子元器件，如连接器、接触头、插脚、接线端等。

美国UPA CMS塑料涂层测厚仪

汽车玻璃涂层测厚仪MicroDerm CMS

世界上第一款手持式β射线测量仪器

● 充电底座可充当测量工作台

HH-3型和HH-2型探针是最通用的β射线探针，这些类型探针可以测量大多数不同尺寸和形状的微小样品，如圆柱体、薄片、挡风玻璃、电子元器件和微小面积样品。
SPG-1 Probe Guide
SPG-1用来定位HH-3探针在微小表面积上的测量，如电子元器件。
WF Probe Guide
WF是一款理想的工具应用于航空、汽车或其它需要测量大面积表面的工业（挡风玻璃、金属板、薄板等）
UMS Probe Stand
UMS探测台用于HH-3探针可精确控制测量位置，底台上附有固定设备。
BTF Probe
BTF β射线薄膜厚度测量探针可以测量极其稀薄的湿或干的涂层，如冲压滑润剂、底漆、扁平零件上的粘合剂等。
HH-4 Probe
HH-4探针主要用来测量样品内部便面的涂/镀层，如管形材料、轴承、环形物、圆柱形物体等。
PS 10-A Probe Table
PS-10A工作台用来进行精确、即时测量非常小的零部件和电子元器件，如连接器、接触头、插脚、接线端等。

美国UPA CMS塑料涂层测厚仪

汽车玻璃涂层测厚仪MicroDerm CMS

世界上第一款手持式β射线测量仪器

● 充电底座可充当测量工作台

HH-3型和HH-2型探针是最通用的β射线探针，这些类型探针可以测量大多数不同尺寸和形状的微小样品，如圆柱体、薄片、挡风玻璃、电子元器件和微小面积样品。
SPG-1 Probe Guide
SPG-1用来定位HH-3探针在微小表面积上的测量，如电子元器件。
WF Probe Guide
WF是一款理想的工具应用于航空、汽车或其它需要测量大面积表面的工业（挡风玻璃、金属板、薄板等）
UMS Probe Stand
UMS探测台用于HH-3探针可精确控制测量位置，底台上附有固定设备。
BTF Probe
BTF β射线薄膜厚度测量探针可以测量极其稀薄的湿或干的涂层，如冲压滑润剂、底漆、扁平零件上的粘合剂等。
HH-4 Probe
HH-4探针主要用来测量样品内部便面的涂/镀层，如管形材料、轴承、环形物、圆柱形物体等。
PS 10-A Probe Table
PS-10A工作台用来进行精确、即时测量非常小的零部件和电子元器件，如连接器、接触头、插脚、接线端等。