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辐射检测仪

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PCB残厚测量仪

日本弹性测量仪

UV测量计

Xray Compact eco

编号:Xray Compact eco

德国金属镀层测厚仪Compact eco 德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选。备有Compact eco , Compact 5/5PIN , Maxxi4 , MaXXi5/5PIN , MaXXi RoHS等型号选择,可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成份分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。 安全性能:通过德国PTB安全验证,符合德国最高安全法规标准。 可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 可测量厚度范围:原子序22-25,0.1…
德国金属镀层测厚仪Compact eco 德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选。备有Compact eco , Compact 5/5PIN , Maxxi4 , MaXXi5/5PIN , MaXXi RoHS等型号选择,可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成份分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。 安全性能:通过德国PTB安全验证,符合德国最高安全法规标准。 可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 可测量厚度范围:原子序22-25,0.1…

RoHS荧光分析仪

编号:iEDX-100A

RoHS荧光分析仪,它是针对生产过程中以及原材料中可能含有铅、镉、汞、六价铬、多溴二苯醚、多溴联苯六种有害物质的电气电子产品(如:家用电器、数码产品、通信产品、电动工具,电动电子玩具、医疗电气设备等)进行环保检测的一种仪器。 RoHS是the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment的英文缩写,是电气、电子设备中限制使用某些有害物质的指令的意思。 iEDX-100A专业用于RoHS有害物质检测,同时具备金属成份分析功能。 应用领域: iEDX-100A RoHS有害元素分析广泛应用于五金、电子、塑胶、玩具、鞋材、皮革等行业 实验室和各种检测机构 考古…

ROHS分析仪

编号:ROHS分析仪

ROHS分析仪 专业用于RoHS有害物质检测IEDX-200AT 同时具备合金成份分析检测及镀层厚度检测功能; 应用领域: 应对非破坏检测 汽车零件,电路板,电器 连接器,移动电话和IT产品 测量涂层中的贵重金属 产品的研发,产品发展和定量控制 技术指标: RoHS/WEEE/ELV无损检测 准确的Cr, Pb, Hg, Cd 定量分析 多镀层,1~6层 测试精度:0.01 um 元素分析范围从钠(Na)到铀(U) 测量时间:10-60秒 自动校准功能 5个准直器、滤光片自动切换 SDD探测器,能量分辨率为125±5eV X射线管50KV/1mA,钨靶 高…
韩国ISP镀层测厚仪iEDX-150WT PCB线路板镀层测厚仪IEDX-150WT iEDX-150WT镀层测厚仪 ISP iEDX-150WT镀层测厚仪; 采用非真空样品腔; 专业用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层测试仪,线路板镀层厚度检测,金属电镀镀层分析; 集成了镀层测厚界面和合金成分分析界面; 可同时分析镀层中的合金成分比列。 应用领域: iEDX-150WT镀层测厚仪应用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层测试,线路板镀层厚度检测,金属电镀镀层分析领域 技术指标: 多镀层,1~5层 测试精度:0.001 μm …

韩国ISP镀层测厚仪iEDX-150WT

编号:韩国ISP镀层测厚仪iEDX-150WT

韩国ISP镀层测厚仪iEDX-150WT iEDX-150WT镀层测厚仪 ISP iEDX-150WT镀层测厚仪; 采用非真空样品腔; 专业用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层测试仪,线路板镀层厚度检测,金属电镀镀层分析; 集成了镀层测厚界面和合金成分分析界面; 可同时分析镀层中的合金成分比列。 应用领域: iEDX-150WT镀层测厚仪应用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层测试,线路板镀层厚度检测,金属电镀镀层分析领域 技术指标: 多镀层,1~5层 测试精度:0.001 μm 元素分析范围从铝(A…
韩国ISP镀层测厚仪iEDX-150T iEDX-150T镀层测厚仪 ISP iEDX-150T镀层测厚仪; 采用非真空样品腔; 专业用于PCB电镀镀层分析、电路板镀层膜厚分析测试及镀层测厚; 采用多种光谱拟合分析处理技术; 可同时分析镀层中的合金成份比列。 应用领域 iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域 技术指标 多镀层分析,1~5层 测试精度:0.001 μm 元素分析范围从铝(Al)到铀(U) 测量时间:10~30秒 SDD探测器,能量分辨率为125±5eV 探测器Be…

iEDX-150T镀层测厚仪

编号:iEDX-150T镀层测厚仪

iEDX-150T镀层测厚仪 ISP iEDX-150T镀层测厚仪; 采用非真空样品腔; 专业用于PCB电镀镀层分析、电路板镀层膜厚分析测试及镀层测厚; 采用多种光谱拟合分析处理技术; 可同时分析镀层中的合金成份比列。 应用领域 iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域 技术指标 多镀层分析,1~5层 测试精度:0.001 μm 元素分析范围从铝(Al)到铀(U) 测量时间:10~…

CMI243金属镀层测厚仪

编号:CMI200/CMI243

CMI 200系列CMI 243膜厚仪 英国牛津Oxford CMI 243是一款专门为测量磁性金属基材上的锌、镍、铬、镉等镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更精确。高端配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它具有X射线荧光的测量精度,同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。CMI 243在设计上更加合理、可靠、实用。 ●ECP-M探头:锌、镍、铬、镉均可以测量 ●准确度:±1% ●测量范围:0.08-1.50mils(2-38μm) ●分辨率:0.01mils (0.1μm) ●适用标准:符合ASTM B244—b259, DIN 50984,ISO 2360,ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3 ●单位:英制和公制单位自动转换 ●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,…

ET-1电解测厚仪

编号:ET-3/ET-2/ET-1

产品图片 产品介绍 ET-1型微电脑多功能电解测厚仪是最新一…
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