milum mm805孔铜面铜测厚仪
milum mm805是桌上型的孔/面銅雙功能測厚儀。附有7吋觸控式彩色螢幕,功能鍵全部顯示於畫面,只要觸摸螢幕即可輕易調整並確認,操作界面輕鬆上手、量測與統計數據一目暸然。
配合孔銅測頭可做35mils以上孔徑量測,附有溫度自動補償功能,其所測出來的數據穩定性高。
面銅部分使用測頭,它能於蝕刻前、後,測量PCB面銅鍍層厚度,與板厚無關。獨特設計的替換式測針(Tips),共有三種規格(W/M/N)供客戶選用,使能 應用於不同的產品生產線。
適用產業:
PCB印刷電路板及鍍銅代工廠或其相關採購業
面銅探頭規格參數:
銅厚測量範圍:0.001~20.0mils (0.02 μm – 500 μm)
準確度:±1% 參考標…
温度记录纸,温湿度记录纸,温湿度折叠记录纸,110/120mm温湿度记录纸
114-33记录纸, EH05043记录纸, B9565AW记录纸, B9573AN记录纸, EM-001记录纸, 20012-7记录纸, 7210-00记录纸
7210--00温湿度记录仪在记录纸上自动绘出存放空间和温度及湿度曲线,记录周期可自行选择1日,7日,32日,适用于半导体制造厂,环 境实验室,化学品仓库,电脑计算机房等的温湿度记录.温湿度记录仪记录纸SK C1681540
7210-00记录仪|7210-00温湿度记录仪|7210-00有纸温湿度记录仪
7210-00记录仪|7210-00温湿度记录仪|7210-00有纸温湿度记录仪
7210-00|sato7210-00|NSII-Q日本佐藤7210-00温湿度记录仪
技术规格
时钟
石英钟,1日,7日及32日转换开关,干电池操作…
7210--00温湿度记录仪在记录纸上自动绘出存放空间和温度及湿度曲线,记录周期可自行选择1日,7日,32日,适用于半导体制造厂,环 境实验室,化学品仓库,电脑计算机房等的温湿度记录.温湿度记录仪记录纸SK C1681540
7210-00记录仪|7210-00温湿度记录仪|7210-00有纸温湿度记录仪
7210-00记录仪|7210-00温湿度记录仪|7210-00有纸温湿度记录仪
7210-00|sato7210-00|NSII-Q日本佐藤7210-00温湿度记录仪
技术规格
时钟
石英钟,1日,7日及32日转换开关,干电池操作…
7210--00温湿度记录仪在记录纸上自动绘出存放空间和温度及湿度曲线,记录周期可自行选择1日,7日,32日,适用于半导体制造厂,环 境实验室,化学品仓库,电脑计算机房等的温湿度记录.温湿度记录仪记录纸SK C1681540
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7210-00记录仪|7210-00温湿度记录仪|7210-00有纸温湿度记录仪
7210-00|sato7210-00|NSII-Q日本佐藤7210-00温湿度记录仪
技术规格
时钟
石英钟,1日,7日及32日转换开关,干电池操作…
SCS Ionograph BT离子污染测试仪
SCS Ionograph® 系列离子污染测试仪
提供快速,精确的清洁度检测
SCS 的名字在工业领域与自动ROSE(萃取溶液电阻率)测试是同义词。SCS Ionograph 离子污染测试系统利用动态萃取法测量浸入超纯溶液中基片的电阻率变化。电阻率的变化程度反映了污染的水平,这通常是来源于制造和组装过程的残留物而产生结果。SCS 离子污染测试系统设定工业质量标准为制造企业提供优质的产品, SCS 离子污染测试系统是一个工业标准,其系列产品传承了精度和性能的特点。就标准而言,SCS 离子污染测试设备产品线符合这些PCB 制造和组装的标准。拥有40 年生产环境经验,SCS 测试系统包括了Ionograph® 和 Omegameter 二个产品线,不断地为电子制造业客户证明它们的价值。
Ionograph SMD V…
WAK-Zn
锌
0 0.2 0.5 1 2 5以上
1分钟
50次/盒
wak-zn锌测试包
原厂包装,每盒10小包,每包5小支,每盒共50支装。
日本KYORITSU水质离子测试包共有41种不同类别,经由简易的操作,即可测出低浓度的水质分析。简易水质离子测试包是利用一支长度约7公分,外径1公分的PE塑料制封闭性试管,内部装填了一次测定需要用量的调制试药。使用时先将试管前端的预埋线拉出,再吸入欲测定的液体样本,待水溶液与试药…
铬试剂LR-CR6+
型式
LR- 测定项目试药No. 测定时间(min)测定范围次数备注
L-8000 UV-1240 L-9000
LR-Al 铝 24 5 0.05-0.4 0.05-0.4 30
LR-B 硼 39 30 1.0-8.0 *1.0-10 25
LR-Ba 钡 34 5 5.0-30 5.0-30 50
LR-Ca-B 钙 48 2 0.5-15 0.5-15 40
LR-Cl 氯化物 10 3 0.6-25 0.6-30 50
LR-CLO-C 残留氯(高浓度) 11C 1 5.0-200 *2.0-200 40
LR-CLO·DP 残留氯(游离) 11B 1 0.05-2.0 0.02-2.0 50
LR-CN 游离氰 14 20 0.01-0.4 0.01-0.4 30 UV-1240测定时间为23分…
AD-3G型凝胶化时间测试仪
凝胶固化时间测试仪AD-3G
AD-3G型凝胶化时间测试仪
技术规范:
温度范围:室温 – 230℃
热盘控温精度:±0.5℃;
热盘温度最小读数:0.1℃;
时钟计时:0-999.9秒;
热盘胶池尺寸:直径20.0mm;
供电:220V,50Hz,300W,单相;
左右各有一个“START/STOP”开关,中间有一个“RESET”开关,便于快速操作;
附有凝胶测试的必须物品:筛网、勺子、黄铜刮刀、木制棍子和树脂清洁剂;
并附有中国第三方质检机构校验报告。
离子污染测试仪SCS Ionograph SMD V
SCS 的名字在工业领域与自动ROSE(萃取溶液电阻率)测试是同义词。SCS Ionograph 离子污染测试系统利用动态萃取法测量浸入超纯溶液中基片的电阻率变化。电阻率的变化程度反映了污染的水平,这通常是来源于制造和组装过程的残留物而产生结果。
SCS 离子污染测试系统
设定工业质量标准
为制造企业提供优质的产品, SCS离子污染测试系统是一个工业标准,其系列产品传承了精度和性能的特点。就标准而言,SCS离子污染测试设备产品线符合这些PCB制造和组装的标准。拥有40年生产环境经验,SCS测试系统包括了Ionograph. 和 Omegameter二个产品线,不断地为电子制造业客户证明它们的价值。
Ionograph SMD V
SCS Ionograph. 在通用清洗标准中被指定为离子污染测试的工业标准…
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