离子污染测试仪推荐一览表
离子污染测试仪
型号:Ionograph 500M SP小测试仪
紧凑型6”×6”/ 0.75加仑测试腔室有能力精确探测独立元件和非常小的器件上的污染物。
•可以以准确的精度探测非常小的污染数量
•最灵敏的500M系列测试模块
•可以理想的用于单独器件或非常小的器件测试
•设备尺寸584x686x482mm,220V 50Hz 2.5A
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离子污染测试仪
型号:Ionograph 500M STD标准测试仪
标准型12”×14”/ 2.7加仑测试腔室,可以对独立的部件
和完全电路板进行典型的污染物测量。
•可以理想的用于从部件到PC装配的测试
•设备尺寸584x686x482mm,220V 50Hz 2.5A
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离子污染测试仪
型号:Ionograph 500M LP多用途测试仪
大的14”×20”/ 5加仑测试腔室中可容纳更长的样品。
•对大元器件的14“ x 20”测试室
•允许测试不能被其它模块容纳的特大型样品
•设备尺寸584x686x762mm,220V 50Hz 2.5A
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离子污染测试仪
型号:Ionograph 500M SMD II 测试仪
SMDII是最多用的测试模组。此模组具有18”×20”、20”×26”和26”×30”的测试腔室尺寸,并可以依据负载需要操作于部分或全溶液模式。浸入式搅拌喷嘴和溶液加热器使这种大型测试模组具有卓越的敏感度,高效的工作和轻松准确的测试超细间距元器件的能力。依据ANSI/J-STD001标准。
•有效测试室尺寸为18"x20" 或 20"x26" 或26”×30”
•加热溶解能力
•为SMT器件优化使用 •允许对大型产品或多重产品测试
•设备尺寸1117x584x863mm,220V 50Hz 3A
•测试溶液7-10加仑
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离子污染测试仪
型号:Omegameter 600SMD测试仪
Omega 600SMD,应用“静态测试”方法进行离子测试的长期工业标准,设计为对PCB和其装配进行洁净度测试。此设备带加热功能,搅拌萃取溶液去除并精确测量从电路板构造和装配过程中引入的残余。Omega 600SMD是一个在广泛商业应用中都有使用的高效和实际指令保证工具。
•系统提供一个准确,重复性和快速的方式决定清洁度
•符合的工业标准有MIL-STD-2000A、IPC-TM-650和ANSI/J-STD-001B
•用于确定电子元件、电路板和装配电路板的清洁度
•可以理想的测试SMT器件装配, 可互换的测试腔体从 8"x8"到26"x26"
•评估不同的助焊剂或决定一个可能的更有效的清洁方式
•在进行涂敷或灌封前验证适当的清洁度。
•设备尺寸965x736x1371mm,230V 50Hz 8A,
测试溶液10加仑
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耗材:更换式离子过滤棒(又称交换柱)FP-92-1000
标准溶液:3#
测试溶液:75I,99I
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